QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法

geng
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2021年6月23日11:43:22 评论

标准名称:QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法

标准格式:PDF

标准大小:2.51 MB

QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法简介:

QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法文件下载,本标准于2008年发布,为航天行业标准。

本标准规定了采用钴60γ射线对宇航用半导体器件(以下简称器件)进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。本标准适用宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。

QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法截图:

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QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法

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