GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 标准名称:GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 文件格式:PDF 标准大小:435.6 KB GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法简... 09月07日 GB/T规范 评论 阅读全文