GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 标准名称:GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 文件格式:PDF 标准大小:716.8 KB GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子... 09月04日 GB/T规范 评论 阅读全文